半导体材料特性测试
作者：西安安泰测试
更新时间：2025-10-28
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一、概述
该方案旨在使用TH2690高精度静电计，对半导体材料进行电学特性测试。通过电流测试模式，评估材料在不同条件下的响应特性，为客户的材料研究与产品开发提供数据支持。
应用实例
在西安某高校实验室内使用TH2690高精度静电计，对客户提供的光敏电阻材料进行电学特性试。通过电流测试模式，评估材料在不同光照条件下的响应特性，为客户的材料研究与产品开发提供数据支持。
1.测量光敏电阻在暗态与光照下的电流值；
2.绘制电流-电压（I-V）特性曲线；
3.分析材料的响应时间、灵敏度等关键参数；
4.为客户提供可重复的测试方法与标准操作流程
三、测试设备与系统配置
主要设备：
TH2690静电计（具备高精度电流测量功能）
探针台（用于接触样品）
光源系统（可调节光照强度）
计算机（搭载上位机软件，用于数据采集与分析）
软件支持：
TH2690配套上位机软件（支持实时数据采集、曲线绘制、数据导出）
四、测试步骤
样品准备
将光敏电阻样品置于探针台上，确保良好电接触；
连接TH2690的电流测量端口至探针。
设备设置：
开启TH2690，选择电流测量模式（Current Mode）；
设置合适的量程（如nA或pA级），避免量程过大导致精度下降
连接上位机软件，启动实时数据采集功能。
暗态测试：
在无光照条件下，施加一系列偏压1V，记录曲线；
绘制暗态I-V曲线。
光照测试：
使用光源照射样品，调节光照强度；
在不同光照条件下重复步骤3，记录电流值；
绘制不同光照下的I-V曲线。
五、预期成果
1.完整的I-V特性曲线数据集；
2.材料的光电响应特性分析报告；
3.客户可独立操作的培训材料与视频。
4.完整将测试过程在用户面前演示，解答用户的疑问以及建群线上沟通。
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