用频谱分析仪在相位噪声对数图模式下测量杂散
在相位噪声模式下测量杂散幅度时要小心。 一般来说，杂散、谐波和其他信号会出现在对数图迹线中。 知道这些信号的存在是很有用的，但是在实际测量它们的幅度时必须小心。
当使用应用软件频谱仪相位噪声测量在测量数图相位噪声时，频谱分析仪的设置会以某种方式改变，以优化分析仪的噪声测量。这些设置会影响测量过程中CW信号的范围。
平均检波器 -- 平均响应检波器提供最准确的噪声测量，是启用相位噪声模式时唯一使用的检波器模式。当分析仪测量时，设置的SPAN较宽，RBW相对较窄时，信号峰值带宽非常窄。传统频谱分析中使用的“正态”和“峰值”检波器具有一个特点，可以保证分析仪无论信号带宽有多窄，都不会错过信号峰值。平均检波器倾向于通过与邻近的噪音平均来减少一个狭窄的峰值信号的大小。频谱仪在后台标记处理中使用了足够多的点，所以这种情况下的噪音比较小。
显示平滑 -- 相位噪声固件显示两个轨迹，一个是原始轨迹，另一个是平滑轨迹。显示平滑功能使用每个显示点周围的可变窗口来计算动态平均结果。该窗口的平均功能将始终降低显示的CW信号的峰值。原始轨迹是杂散信号的最佳显示。
最后，显示的SSB相位噪声轨迹被归一化，以显示相当于1Hz带宽的噪声。实际测量的BW大于1Hz。归一化是基于这个公式:
P(1Hz) = P(meas)-10log(RBW)
该公式假设分析仪带宽中的所有信号都是真正的噪声信号。如果有相关性(CW)由于集成，信号将显示在较低的范围内。一般来说，RBW在近端偏移时设置为较小的值(允许更好的频率分辨率和抑制载波)，而在远端偏移时使用较大的值(允许更快的测量时间)。例如，如果一个特定的测量点使用100kHzRBW，则集成到1hzBW的校正系数为-50dB(-10log(1万)。同样，如果我们正在寻找噪音，则将该校正应用于测量——杂散/谐波也减少了50dB。
从xSAA.从18.05版本开始，提供了“杂散检测”算法。可以在“”Display“在菜单设置下调用”SpuriousTable"。(在传统的GUI中，这是Meassetup，more,Spurioustable下)。
结果截图(注意-这里我们还提供了杂散的抖动加成!)
关于这一切要记住的一点：在对数图测量中，相干杂散信号的幅值在相位噪声测量中总是会减少。如果你的频谱分析仪有杂散检测算法-一定要用它来正确显示杂散电平，单位是dBc。
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